Paquete de análisis de datos de microlitografía capaz de ajustar conjuntos de datos de tipo Bossung, también conocidos como matrices de exposición de enfoque. Palabras clave: Litografía, Fotolitografía, Fotoresista, Ventana de Proceso, Dimensión Crítica, CD, Bossung, FEM
historial de versiones
- Versión N/A publicado en 2011-08-11
Varias correcciones y actualizaciones - Versión N/A publicado en 2011-08-11
Detalles del programa
- Categoría: Desarrollo > Otro
- Editor: freedata.sf.net
- Licencia: Gratis
- Precio: N/A
- Versión: Array
- Plataforma: windows