Image SXM es una versión del software de análisis de imágenes de dominio público NIH Image que se ha ampliado para gestionar la carga, visualización y análisis de imágenes de microscopio de escaneo. Image SXM es compatible con imágenes SAM, SCM, SEM, SFM, SLM, SNOM, SPM y STM de los siguientes sistemas: Asylum Research, Asylum Research, Burleigh Instruments, Instrumentos Digitales NanoScope II-III-IV, DME Rasterscope, DME Surface Data File, Gatan DigitalMicrograph, JEOL JSM, JEOL WinSem, JEOL WinSPM, JPK Instruments, Klocke Nanotechnik Atomikro, Leica LIF, Leica TCS, LEO SEM, Molecular Imaging PicoScan, NanoMagnetics Instruments SPMSIF, Nanosurf easyScan, Nanotec Electronica WSxM, Noran Instruments Vantage, NT-MDT, Omicron Vakuumphysik, Omicron SCALA, Oxford Instruments TOPSystem, Park Scientific Instruments HFS-LIF, Park Scientific Instruments HDF, Philips SEM, Quesant Instruments, RHK Technology SPM-32, RHK Technology XPM Pro, Seiko Instruments (SIINT) SPI, SPECS STM Aarhus, ThermoMicroscopes, TopoMetrix SPMLab, Unisoku, Vacuum Generators SAM, Veeco Innova, WA Technology, Zeiss AxioVision, Zeiss LSM.
historial de versiones
- Versión 190 publicado en 2010-04-14
Detalles del programa
- Categoría: Negocio > Herramientas Matemáticas y Científicas
- Editor: Steve Barrett
- Licencia: Gratis
- Precio: N/A
- Versión: 200-1
- Plataforma: mac